| 研究計畫 | ||||
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研究計畫 |
| 排序: |
| 計畫名稱 | 主持教授 | 預算 | 執行時間 |
| 高效能有機發光照明技術:關鍵材料,元件與技術研究(1/3) NSC 94-2218-E-002 -069 |
邱奕鵬 | 7121000 | 2005-11-01 - 2006-10-01 |
| 以硬體實現時域有限差分的光電元件模擬 NSC 95-2221-E-002 -285 |
邱奕鵬 | 787000 | 2006-08-01 - 2007-07-01 |
| 光通訊應用之前瞻性光電元件(一) 95R0062-07 |
邱奕鵬 | 8000000 | 2006-08-01 - 2007-07-01 |
| 太陽能及海水淡化發展之研究 |
邱奕鵬 | 150000 | 2006-08-01 - 2008-07-01 |
| 光學網路基礎研究-子計畫二:高速光學交換器系統 95-2221-E-007-046-MY3 |
邱奕鵬 | 3169000 | 2006-08-01 - 2009-07-01 |
| 光學網路基礎研究-子計畫一:全光網路中光子晶體光 95-2221-E-009-056-MY3 |
邱奕鵬 | 2536000 | 2006-10-01 - 2009-07-01 |
| 高效能有機發光照明技術:關鍵材料,元件與技術研究(2/3) 95-2218-E-002-069- |
邱奕鵬 | 7121000 | 2006-11-01 - 2007-10-01 |
| 光通訊應用之前瞻性光電元件(二) 96R0062-07 |
邱奕鵬 | 8000000 | 2007-08-01 - 2008-07-01 |
| 顯示器及發光元件的發光萃取效率之提昇研究 NSC 96-2221-E-002 -172 |
邱奕鵬 | 978000 | 2007-08-01 - 2008-07-01 |
| 高效能有機發光照明技術:關鍵材料,元件與技術研究(3/3) NSC 96-2218-E-002 -069 |
邱奕鵬 | 7124000 | 2007-11-01 - 2008-10-01 |
| 微結構太陽能電池元件的模擬分析之發展與應用 NSC 98-2221-E-002 -170 -MY3 |
邱奕鵬 | 2242000 | 2009-08-01 - 2012-07-01 |
| 以液相氧化技術成長高介電常數聞聞極介電層之製程與電特性研究 |
胡振國 | 800000 | 2004-01-01 - 2004-12-31 |
| 矽金氧半超薄閘極絕緣層製程研發及新型元件應用(1/3) NSC 93-2215-E-002-016 |
胡振國 | 1473800 | 2004-08-01 - 2005-07-31 |
| 快速熱製程氧化層之均勻度與應力效應研究(3/3) NSC 93-2215-E-002-001 |
胡振國 | 1309000 | 2004-08-01 - 2005-07-31 |
| 先進CMOS元件及製程研究 - 子計畫一 :適用於低溫基板製程之高品質絕緣膜形成技術(1/3) NSC 94-2215-E-002-044 |
胡振國 | 1377000 | 2005-08-01 - 2006-07-31 |
| 先進CMOS元件及製程研究 -總計畫(1/3) NSC 94-2215-E-002-047 |
胡振國 | 2485000 | 2005-08-01 - 2006-07-31 |
| 矽金氧半超薄閘極絕緣層製程研發及新型元件應用(2/3) NSC 94-2215-E-002-004 |
胡振國 | 1659000 | 2005-08-01 - 2006-07-31 |
| 微電子工程學門研究發展及推動規劃(1/3) NSC 94-2217-E-002-016 |
胡振國 | 929000 | 2005-12-01 - 2006-11-30 |
| 矽金氧半超薄閘極絕緣層製程研發及新型元件應用(3/3) NSC 95-2221-E-002-375 |
胡振國 | 1706000 | 2006-08-01 - 2007-07-31 |
| 先進CMOS元件及製程研究 -總計畫(2/3) NSC 95-2221-E-002-367 |
胡振國 | 2307000 | 2006-08-01 - 2007-07-31 |
| 先進CMOS元件及製程研究 - 子計畫一 :適用於低溫基板製程之高品質絕緣膜形成技術(2/3) NSC 95-2221-E-002-358 |
胡振國 | 1587000 | 2006-08-01 - 2007-07-31 |
| 微電子工程學門研究發展及推動規劃(2/3) NSC 95-2217-E-002-002 |
胡振國 | 1017000 | 2006-12-01 - 2007-11-30 |
| 先進CMOS元件及製程研究 -總計畫 (3(/3) NSC 96-2221-E-002-286 |
胡振國 | 1797000 | 2007-08-01 - 2008-07-31 |
| 先進CMOS元件及製程研究 - 子計畫一 :適用於低溫基板製程之高品質絕緣膜形成技術(3/3) NSC 96-2221-E-002-244 |
胡振國 | 1587000 | 2007-08-01 - 2008-07-31 |
| 超薄絕緣層新穎製程開發及其在矽金氧半元件之應用(1/3) NSC 96-2628-E-002-246-MY3 |
胡振國 | 1285000 | 2007-08-01 - 2010-07-31 |
| 微電子工程學門研究發展及推動規劃(3/3) NSC 96-2217-E-002-002 |
胡振國 | 1147000 | 2007-12-01 - 2008-12-31 |
| 超薄絕緣層新穎製程開發及其在矽金氧半元件之應用(2/3) NSC96-2628-E-002-246-MY3 |
胡振國 | 1777000 | 2008-08-01 - 2010-07-31 |
| 後矽電子之增強技術 - 總計畫(1/3) NSC97-2221-E-002-233-MY3 |
胡振國 | 1887000 | 2008-08-01 - 2011-07-31 |
| 後矽電子之增強技術 - 子計畫一 : 碳化矽上新穎絕緣層技術 (1/3) NSC97-2221-E-002-231-MY3 |
胡振國 | 1920000 | 2008-08-01 - 2011-07-31 |
| 超薄絕緣層新穎製程開發及其在矽金氧半元件之應用(3/3) NSC96-2628-E-002-246-MY3 |
胡振國 | 1777000 | 2009-08-01 - 2010-07-31 |
| 後矽電子之增強技術 - 總計畫(2/3) NSC97-2221-E-002-233-MY3 |
胡振國 | 2150000 | 2009-08-01 - 2011-07-31 |
| 後矽電子之增強技術 - 子計畫一 : 碳化矽上新穎絕緣層技術 (2/3) NSC97-2221-E-002-231-MY3 |
胡振國 | 1692000 | 2009-08-01 - 2011-07-31 |
| 後矽電子之增強技術 - 子計畫一 : 碳化矽上新穎絕緣層技術 (3/3) NSC97-2221-E-002-231-MY3 |
胡振國 | 1812000 | 2010-08-01 - 2011-07-31 |
| 後矽電子之增強技術-總計畫(3/3) NSC97-2221-E-002-233-MY3 |
胡振國 | 2064000 | 2010-08-01 - 2011-07-31 |
| 高品質超薄閘極氧化層製程技術及元件應用(1/3) NSC99-2221-E-002-197-MY3 |
胡振國 | 1269000 | 2010-08-01 - 2013-07-31 |
| 高品質超薄閘極氧化層製程技術及元件應用(2/3) NSC99-2221-E-002-197-MY3 |
胡振國 | 1975000 | 2011-08-01 - 2013-07-31 |
| 先進CMOS元件之增強技術-總計畫 (1/3) NSC100-2221-E-002-057-MY3 |
胡振國 | 1464000 | 2011-08-01 - 2014-07-31 |
| 先進CMOS元件之增強技術-子計畫一:於不平坦矽基生長超薄閘極絕緣層之金氧半結構電特性研究(1/3) NSC100-2221-E-002-055-MY3 |
胡振國 | 1101000 | 2011-08-01 - 2014-07-31 |
| 高品質超薄閘極氧化層製程技術及元件應用(3/3) NSC99-2221-E-002-197-MY3 |
胡振國 | 1975000 | 2012-08-01 - 2013-07-31 |
| 先進CMOS元件之增強技術-總計畫 (2/3) NSC100-2221-E-002-057-MY3 |
胡振國 | 1878000 | 2012-08-01 - 2014-07-31 |
| 先進CMOS元件之增強技術-子計畫一:於不平坦矽基生長超薄閘極絕緣層之金氧半結構電特性研究(2/3) NSC100-2221-E-002-055-MY3 |
胡振國 | 1159000 | 2012-08-01 - 2014-07-31 |
| 先進CMOS元件之增強技術-總計畫 (3/3) NSC100-2221-E-002-057-MY3 |
胡振國 | 1693000 | 2013-08-01 - 2014-07-31 |
| 先進CMOS元件之增強技術-子計畫一:於不平坦矽基生長超薄閘極絕緣層之金氧半結構電特性研究(3/3) NSC100-2221-E-002-055-MY3 |
胡振國 | 1336000 | 2013-08-01 - 2014-07-31 |
| 超薄閘極氧化層不均勻特性分析及元件應用(1/3) NSC102-2221-E-002-183-MY3 |
胡振國 | 1407000 | 2013-08-01 - 2016-07-31 |
| 超薄閘極氧化層不均勻特性分析及元件應用(2/3) NSC 102-2221-E-002-183-MY3 |
胡振國 | 1527000 | 2014-08-01 - 2016-07-31 |
| 節能電晶體與記憶體技術-總計畫暨子計畫一: 節能型金氧半結構揮發性記憶體(1/3) MOST 103-2221-E-002-252-MY3 |
胡振國 | 2513000 | 2014-08-01 - 2017-07-31 |
| 超薄閘極氧化層不均勻特性分析及元件應用(3/3) NSC 102-2221-E-002-183-MY3 |
胡振國 | 1527000 | 2015-08-01 - 2016-07-31 |
| 節能電晶體與記憶體技術-總計畫暨子計畫一: 節能型金氧半結構揮發性記憶體(2/3) MOST 103-2221-E-002-252-MY3 |
胡振國 | 2576000 | 2015-08-01 - 2017-07-31 |
| 節能電晶體與記憶體技術-總計畫暨子計畫一: 節能型金氧半結構揮發性記憶體(3/3) MOST 103-2221-E-002-252-MY3 |
胡振國 | 2573000 | 2016-08-01 - 2017-07-31 |
| 閘極穿隧引起金氧半結構之深空乏特性及元件耦合應用(1/3) MOST 105-2221-E-002-180-MY3 |
胡振國 | 1422000 | 2016-08-01 - 2019-07-31 |